壓電納米級(jí)物鏡定位器是一種新型的共焦顯微技術(shù)，該技術(shù)以普通光學(xué)顯微鏡為基礎(chǔ)，采集一系列生物細(xì)胞的序列切片圖像，并在計(jì)算機(jī)上采用數(shù)學(xué)算法對(duì)切片圖像進(jìn)行去卷積處理，從而獲取高分辨率的序列圖像，通過三維重建，實(shí)現(xiàn)高分辨率的細(xì)胞三維顯示。在數(shù)字共焦顯微技術(shù)中，為了獲取準(zhǔn)確的等間隔生物細(xì)胞序列切片圖像，需通過驅(qū)動(dòng)顯微鏡物鏡與載物臺(tái)之間數(shù)十納米的相對(duì)步進(jìn)微位移來進(jìn)行采集。
該設(shè)備是專為聚焦顯微而設(shè)計(jì)的，采用無回差柔性鉸鏈并聯(lián)導(dǎo)向結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，物鏡補(bǔ)償量小，具有超高聚焦穩(wěn)定性，物鏡定位器裝入顯微檢測/測量或者觀測裝置可以帶動(dòng)鏡片聚焦提高精度，可與多種高分辨率的顯微鏡配合使用。內(nèi)置高性能壓電陶瓷，閉環(huán)精度高，響應(yīng)速度快、滿行程線性度達(dá)納米量級(jí)，可進(jìn)行激光聚焦，已廣泛應(yīng)用與晶圓切割、半導(dǎo)體及微電子加工領(lǐng)域。
壓電納米級(jí)物鏡定位器在顯微領(lǐng)域的應(yīng)用：
現(xiàn)代顯微任務(wù)要求越來越高的圖像分辨率以及 3D 圖像掃描系統(tǒng)。除了利用新開發(fā)的特殊光學(xué)方法(如STED，TIRF...)來獲得在生物學(xué)領(lǐng)域越來越多的詳細(xì)信息之外，同時(shí)包括其他應(yīng)用方法：
1、自動(dòng)對(duì)焦；
2、共聚焦顯微鏡和三維成像系統(tǒng)；
3、服務(wù)于現(xiàn)代研究的定位系統(tǒng)如 STED；TIRF；DIC雙光子顯微鏡；
4、可集成到幾乎所有的主流顯微鏡的壓電定位系統(tǒng)。
